A New Low Power Scan Architecture Considering Test Data Compression

Hong-Sik Kim ,  Beom Ik Cheon ,  Kyu-Myung Choi 외 1명

대한전자공학회 ISOCC

2006 .10

저전력을 고려한 스캔 체인 구조 변경

金吝洙 ,  閔炯福

전기학회논문지 D

2005 .07

Dynamically Changeable Secure Scan Architecture against Scan-Based Side Channel Attack

Yuta Atobe ,  Youhua Shi ,  Masao Yanagisawa 외 1명

대한전자공학회 ISOCC

2012 .11

Are You O.K! Architecture?

조충기

건축사

2007 .01

An Efficient Delay Test Method Using Boundary-Scan Architecture

Yong Min Hu ,  Keun Jang Ryoo ,  Jac Heung Shin 외 5명

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

Master-Slave 기법을 적용한 System Operation의 동작 검증

金吝洙 ,  閔炯福

전기학회논문지

2009 .01

Scan Cell Grouping Algorithm for Low Power Design

Insoo Kim ,  Hyoung Bok Min

Journal of Electrical Engineering & Technology

2008 .03

Efficient Low-power Scan Test Method based on Exclusive Scan and Scan Chain Reordering

Dooyoung Kim ,  Jinuk Kim ,  Muhammad Ibtesam 외 4명

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2020 .08

Functional-power-aware Partial Gating Method for Low Power Scan-shift

Kyongjun Noh ,  Taehee Lee ,  Jun dong Cho

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2018 .02

A Novel High Performance Scan Architecture with Dmuxed Scan Flip-Flop (DSF) for Low Shift Power Scan Testing

Jung-Tae Kim ,  Insoo Kim ,  Keon-Ho Lee 외 4명

Journal of Electrical Engineering & Technology

2009 .12

Segmented Scan Architecture Using Segment Grouping for Test Cost Reduction

Myung-Hoon Yang ,  Taejin Kim ,  Yongjoon Kim 외 1명

대한전자공학회 ISOCC

2008 .11

TRACE : Transition Repression Architecture for low power scan CEll in BIST environment

Incheol Kim ,  Dongsup Song ,  Kicheol Kim 외 2명

대한전자공학회 ISOCC

2006 .10

Line Scanning Performance 향상에 관한 연구

송우섭 ,  이승우 ,  이정률

한국통신학회 학술대회논문집

1994 .07

삽입 실시간 디스크 스케줄링기법과 양방향 SCAN기법

이덕용 ,  박창현 ,  조행래

한국정보과학회 학술발표논문집

2004 .10

피니싱 장비의 스캔 장치 특성 실험

임선종

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2015 .05

C-Scan 초음파 영상 컬러화 및 용접 품질 자동 평가 시스템

김태규 ,  권성근

멀티미디어학회논문지

2018 .11

IEEE 1149.1 표준에 근거한 다중 클럭을 이용한 단일 캡쳐 스캔 설계에 적용되는 경계 주사 테스트 기법에 관한 연구

金吝洙 ,  閔炯福

전기학회논문지

2007 .05

전류 밀도 측정을 위한 스캔 장치 설계

임선종

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2015 .12

Low power scan testing and efficient test data compression for System-On-a-Chip

Jun Mo Jung ,  Jong-Wha Chong

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

2002 .07