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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
정구현 (울산대학교)
저널정보
한국트라이볼로지학회 Tribology and Lubricants 윤활학회지 제28권 제2호
발행연도
2012.4
수록면
62 - 69 (8page)

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Atomic force microscopy (AFM) has been widely utilized as a versatile tool not only for imaging surfaces but also for understanding nano-scale interfacial phenomena. By measuring the responses of the photo detector due to bending and torsion of the cantilever, which are caused by the interactions between the probe and the sample surface, various interfacial phenomena and properties can be explored. One of the challenges faced by AFM researchers originates in the physics of measuring the small forces that act between the probe of a force sensing cantilever and the sample. To understand the interactions between the probe and the sample quantitatively, the force calibration is essential. In this work, the procedures used to calibrate AFM instrumentation for nano-scale force measurement in normal and lateral directions are reviewed.
#AFM cantilever (원자력현미경 외팔보) #force calibration (힘 교정) #force-distance curve(힘-변위 곡선) #friction loop(마찰 곡선)

목차

Abstract
1. 서론
2. 수직방향 힘 교정 (normal force calibration)
3. 수평방향 함 교정 (lateral force calibration)
4. 액체 환경에서의 교정
5. 결론
후기
참고문헌

참고문헌 (38)

참고문헌 신청
Binnig, G. / 1986 / Atomic Force Microscope / Phys. Rev. Lett. 56:930~933 google schola Mamin, H. J. / 1992 / Thermomechanical Writing with an Atomic Force Microscope Tip / Appl. Phys. Lett. 61:1003~1005 google schola 김대은 / 200308 / Micro/nano-tribological characteristics of self-assembled monolayer and its application in nano-structure fabrication / WEAR 255:808~818 google schola Erlandsson, R. / 1988 / Atomic Force Microscopy Using Optical Interferometry / J. Vac. Sci. Technol. A 6:266~270 google schola 이창구 / 200807 / Measurement of the elastic properties and intrinsic strength of monolayer graphene / SCIENCE 321(5887):385~388 google schola

이 논문의 저자 정보

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