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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2013.8
- 수록면
- 1,899 - 1,907 (9page)
이용수
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본 논문에서는 초미세 패턴으로 구성된 칩-온-필름(Chip-on-Film, COF) 패키징 작업에서 발생하는 결함들을 참조영상에 기초하여 효율적으로 검출하고 분류하는 시스템을 제안한다. COF패키징 제작 과정에서 발생하는 치명적인 결함은 개방(open), 일부개방(mouse bite, near open), 단락(hard short) 및 돌기(protrusion, near short, soft short) 등을 포함한다. 이러한 결함을 검출하기 위해서는 기존에 직접 육안으로 식별하거나 또는 전기회로 설계를 이용하는 방법을 사용하였다. 그러나 이러한 방법은 매우 많은 시간과 고비용이 요구되는 단점이 있다. 본 논문에서는 참조영상을 사용하여 효과적으로 결함유무를 판단하고 결함이 발생되는 경우에 결함의 종류를 4 가지 형태로 분류하는 시스템을 제안한다. 제안방식은 검사영상의 전처리, 관심영역 추출, 지역이진분석에 의한 이물 특징 분석과 분류 등을 포함한다. 수많은 실험을 통해, 제안된 시스템은 초미세 패턴을 가진 COF의 결함 검사 및 분류에 대해 기존의 방식에 비해 시간과 경비를 줄이는데 효과적임을 보인다.
목차
요약
ABSTRACT
Ⅰ. 서론
Ⅱ. COF 제조공정과 결함
Ⅲ. 제안된 결함 검출 및 분류 시스템
Ⅳ. 구현 결과 및 검토
Ⅴ. 결론
REFERENCES
참고문헌 (14)
참고문헌 신청
4. [학술대회논문] - Y.S. Kim / 2007 / Defects Detection of TCP/COF Using Real-Time Line Scanner / CICS'07 : 153 ~ 154
5. [학술지(정기간행물)] - S. -M. Chang / 2001 / Characteristic Study of Anisotropic-conductive Film for Chip-on-film Packaging / icroelectronics Reliability 41 (12) : 2001 ~ 2009
6. [학술대회논문] - Y. -T. Hsieh / 2002 / Reliability and Failure Mode of Chip-onfilm with Non-conductive Adhesive / IEEE Proceedings of the 4th Int. Symposium on Electronic Materials and Packaging : 157 ~ 160
7. [학술지(정기간행물)] - D. M. Tsai / 2003 / Fast Defect Detection in Textured Surface Using 1D Gabor Filter / Int. Journal of Advanced Manufacturing Technology 20 : 664 ~ 675
8. [학술대회논문] - J. Chen / 1998 / A Structural Approach to Identify Defects on Textural Image / Proc. of IEEE Int. Con. on Systems, Man., and Cybernetics : 29 ~ 32
5. [학술지(정기간행물)] - S. -M. Chang / 2001 / Characteristic Study of Anisotropic-conductive Film for Chip-on-film Packaging / icroelectronics Reliability 41 (12) : 2001 ~ 2009
6. [학술대회논문] - Y. -T. Hsieh / 2002 / Reliability and Failure Mode of Chip-onfilm with Non-conductive Adhesive / IEEE Proceedings of the 4th Int. Symposium on Electronic Materials and Packaging : 157 ~ 160
7. [학술지(정기간행물)] - D. M. Tsai / 2003 / Fast Defect Detection in Textured Surface Using 1D Gabor Filter / Int. Journal of Advanced Manufacturing Technology 20 : 664 ~ 675
8. [학술대회논문] - J. Chen / 1998 / A Structural Approach to Identify Defects on Textural Image / Proc. of IEEE Int. Con. on Systems, Man., and Cybernetics : 29 ~ 32
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