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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
주병권 (인텍플러스) 조택동 (충남대학교)
저널정보
Korean Society for Precision Engineering Journal of the Korean Society for Precision Engineering Journal of the Korean Society for Precision Engineering Vol.32 No.9
발행연도
2015.9
수록면
799 - 805 (7page)

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The further development of information, communication and digital media technologies requires the use of advanced, miniaturized semiconductor chips that operate at a high frequency. Die bonding and wire bonding methods for semiconductor packaging have been replaced by direct attachment to the substrate after forming a bump on the chip. However, the height of the bump or ball is an important factor for defects during assembly. This paper proposes an algorithm to measure the height of the bumps or balls in semiconductor packaging with greater accuracy. The performance of the proposed algorithm is experimentally validated. Non-contact 3D measurements of a shiny round ball is quite difficult, and it is not easy to obtain accurate data. This paper thus proposes an optical method and technique to improve the measurement accuracy.

목차

1. 서론
2. BGA 정밀 높이 측정에 대한 연구 동향
3. 슬릿빔을 이용한 고반사 BGA 볼(Ball)의 정밀 높이 측정방법
4. 실험 및 고찰
5. 결론
REFERENCES

참고문헌 (10)

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