SMT 검사기를 위한 불량유형의 자동 분류 방법

이재설; 박태형

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자료유형: 학술저널

저자정보: 이재설 (미르기술) 박태형 (충북대학교)

저널정보: 제어로봇시스템학회 제어로봇시스템학회 논문지 제어로봇시스템학회 논문지 제21권 제10호

발행연도: 2015.10

수록면: 982 - 987 (6page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2016

SMT 검사기를 위한 불량유형의 자동 분류 방법

이재설 전기,전자,정보,컴퓨터학부 2016.01 학위논문

2015

SMT 검사기를 위한 불량유형의 자동 분류 방법

이재설 , 박태형 제어로봇시스템학회 논문지 2015.10 학술저널

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The inspection machine in SMT (Surface Mount Technology) line detects the assembly defects such as missing, misalignment, loosing, or tombstone. We propose a new method to classify the defect types of chip components by processing the image of PCB. Two original images are obtained from horizontal lighting and vertical lighting. The image of the component is divided into two soldering regions and one packaging region. The features are extracted by appling the PCA (Principle Component Analysis) to each region. The MLP (Multilayer Perceptron) and SVM (Support Vector Machine) are then used to classify the defect types by learning. The experimental results are presented to show the usefulness of the proposed method.

#SMT (Surface Mount Technology) #AOI (Automated Optical Inspection machine) #defect classification #PCA #SVM

참고문헌 (14)

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[학술지(정기간행물)] - 박태형 / 2010 / PCB 조립검사기의 자동티칭을 위한 부품윈도우 자동추출 방법 / 제어.로봇.시스템학회 논문지 16 (11) : 1089 ~ 1095

[학술지(정기간행물)] - 김준오 / 2012 / 영상 클러스터링에 의한 인쇄회로기판의 부품검사영역 자동추출 / 전기학회논문지 61 (3) : 472 ~ 478

[학술대회논문] - I. A. EI. Rube / 2004 / Coarse-tofind multiscale affine invariant shape matching and classfication / Proc. of the 17th Int. Conf. on Pattern Recognition 2 : 163 ~ 166

[학술대회논문] - K. Fredrilsson / 2001 / Faster template matching without FFT / 2001 Int. Conf. on Image Processing 1 : 678 ~ 681

[학술지(정기간행물)] - S. D. Wei / 2007 / Fast template matching by applying Winner-Update on Walsh-Hadamard domain / IEEE Int. Conf. on Acoustics Speech and Signal Processing 1 : 1029 ~ 1032

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