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학술저널
저자정보
문병민 (한양대학교) 최영진 (한양대학교) 지유민 (SK하이닉스) 이용중 (SK하이닉스) 이근우 (SK하이닉스) 나한주 (SK하이닉스) 양중섭 (SK하이닉스) 배석주 (한양대학교)
저널정보
한국신뢰성학회 신뢰성응용연구 신뢰성응용연구 제18권 제1호
발행연도
2018.3
수록면
33 - 39 (7page)
DOI
10.33162/JAR.2018.03.18.1.33

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Purpose: Accelerated degradation tests can be effective in assessing product reliability when degradation leading to failure can be observed. This article proposes an accelerated degradation test model for highly reliable solid state drives (SSDs).
Methods: We suggest a nonlinear mixed-effects (NLME) model to degradation data for SSDs. A Monte Carlo simulation is used to estimate lifetime distribution in accelerated degradation testing data. This simulation is performed by generating random samples from the assumed NLME model.
Conclusion: We apply the proposed method to degradation data collected from SSDs. The derived power model is shown to be much better at fitting the degradation data than other existing models. Finally, the Monte Carlo simulation based on the NLME model provides reasonable results in lifetime estimation.
#Accelerated Degradation Test #Degradation Model #Non-Linear Mixed-Effects Model #Raw Bit Error Rate #Solid State Drive

목차

1. 서론
2. 가속열화시험 데이터 모델링 및 분석
3. SSD에 대한 사례연구
4. 결론 및 향후연구
References

참고문헌 (12)

참고문헌 신청
Pinheiro, E. / 2007 / Failure Trends in a Large Disk Drive Population / 5th USENIX Conference on File and Storage Technologies (FAST'07) google schola Prabhakaran, V. / 2010 / Depletable Storage Systems / 2nd USENIX Workshop on Hot Topics in Storage and File Systems (HotStorage'10) google schola 김세욱 / 2011 / SSD를 위한 SMART 기반 신뢰성 분석 방법론: 측정과 의미 / 정보과학회논문지 : 시스템 및 이론 38(5):207~215 dbpia Marquart, T. A. / 2015 / Solid-State-Drive Qualificati- on and Reliability Strategy / Integrated Reliability Workshop (IIRW) :3~6 google schola 2009 / JEDEC JEP122G, Failure Mechanisms and Models for Semiconductor Devices google schola

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