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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2024.5
- 수록면
- 555 - 562 (8page)
- DOI
- 10.5302/J.ICROS.2024.24.0019
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In this paper, we focus on the restoration of a 3D height to inspect the components of a printed circuit board. The majority of automatic optical inspectors encounter issues with reflections and shadows caused by the lighting on the components. These conditions obstruct accurate measurements of shapes and heights. To efficiently restore these shadowed and reflected areas, we first define the regions of reflection and shadow based on the pixel values in an image. Then, we propose a network that incorporates a loss function by utilizing the characteristics of moiré patterns for restoration. The effectiveness of our proposed method is demonstrated through experimental results.
목차
Abstract
I. 서론
II. 모아레 패턴을 이용한 3차원 형상정보 획득
III. 제안 방법
IV. 실험
V. 결론
REFERENCES
참고문헌 (25)
참고문헌 신청
J. S. Lee and T. H. Park, “Defect classification of components for SMT inspection machines,” Journal of Institute of Control, Robotics and Systems (in Korean), vol. 21, no. 10, pp. 982-987, Oct. 2015.
J. D. Song, Y. G. Kim, and T. H. Park, “Defect classification method of PCB solder joint by color features and region segmentation,” Journal of Institute of Control, Robotics and Systems (in Korean), vol. 23, no. 12, pp. 1086-1091, Dec. 2017.
S. Zhang, “High-speed 3D shape measurement with structured light methods: a review,” Optics and Lasers in Engineering, vol. 106, pp. 119-131, Jul. 2018.
Z. Wang, Z. Zhang, N. Gao, Y. Xiao, F. Gao, and X. Jiang, “Single-shot 3D shape measurement of discontinuous objects based on a coaxial fringe projection system,” Applied Optics, vol. 58, no 5, pp. A169-A178, Jan. 2019.
C. Lin, D. Zheng, Q. Kemao, J. Han, and L. Bai “Spatial pattern-shifting method for complete two-wavelength fringe projection profilometry,” Optics Letters, vol. 45, no. 18, pp. 5225-5225, Sep. 2020.
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