메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류
인문학
인문학 일반 역사학 철학 종교학 어문학 기타 인문학
사회과학
사회과학 일반 경영학 관광학 교육학 군사학 문헌정보학 법학 사회학 신문방송학 심리과학 정치외교학 지리학 행정학 경제학 무역학 인류학 기타 사회과학
자연과학
자연과학 일반 물리학 생물학 생활과학 수학·통계학 천문학 지구과학 화학 기타 자연과학
공학
공학 일반 건축공학 기계공학 산업공학 재료·에너지공학 전기전자공학 조선해양공학 화학공학 컴퓨터학 기타공학
의약학
의학 일반 간호학 수의학 약학 한의학 기초의학 임상의학 기타 의약학
농수해양학
농수해양학 일반 농학 수산학 식품과학 임학 축산학 해상운송학 기타 농수해양학
예술체육학
예술 일반 디자인 미술 미용 사진 음악학 의상 체육 공연매체예술 기타 예술체육학
복합학
학제간연구 과학기술학 뇌인지과학 기술정책 기타 복합학

ENG

추천
검색

논문 기본 정보

자료유형
학위논문
저자정보

연승근 (충북대학교, 충북대학교 일반대학원)

지도교수
박태형
발행연도
2016
저작권
충북대학교 논문은 저작권에 의해 보호받습니다.

이용수1

표지
AI에게 요청하기
추천
검색

이 논문의 연구 히스토리 (3)

2017

PCB 검사기를 위한 웨이블릿 변환 기반의 결함 검출 방법
연승근 ,  김영규 ,  박태형 전기학회논문지 2017.10 학술저널

2016

웨이블릿 변환의 고주파 영역을 고려한 인쇄회로기판의 결함 검출 및 분류 방법
연승근 전기,전자,정보,컴퓨터학부 2016.01 학위논문

2015

웨이블릿 변환을 사용한 인쇄회로기판의 결함 검사
연승근 ,  박태형 제어로봇시스템학회 국내학술대회 논문집 2015.05 학술대회자료

초록· 키워드

오류제보하기
This paper proposes the defect detection and classification method for automatic optical inspection (AOI) machines in printed circuit boards (PCBs) manufacturing system. The defects of PCB such as open, short, pinhole and scratch can be detected by comparing the standard image and the target image. The standard image is obtained from CAD file, and the target image is obtained by arranging, denoising, stretching, and binarization of captured PCB image. Since the image resolution is too high, the image processing requires a lot of memory and computational time. The wavelet transform is applied to compress the standard and target images, which results in reducing the memory and computational time. To increase the inspection accuracy, we utilize the he HH-domain as well as LL-domain of the transformed images. Defect name classifier using heuristic and artificial neural network is used to classify the defect names automatically. Experimental results are finally presented to show the performance improvement of the proposed method.
#printed circuit board #automatic optical inspection #wavelet transform

목차

I. 서 론 1
1.1. 연구 배경 1
1.2. PCB 생산 공정 3
1.3. PCB 결함의 종류 4
1.4. PCB 자동 광학 검사기 5
1.5. 기존 결함 검출 연구 7
1.6. 연구 목적 11
1.7. 논문 구성 12
II. 시스템 구성 14
III. 웨이블릿 변환 15
3.1. 웨이블릿 변환 15
3.2. 이산 웨이블릿 변환 18
3.3. 웨이블릿 변환의 응용 연구 20
IV. 결함 검출 알고리즘 22
4.1. 저주파 영역만 사용한 결함 검출 방법 22
4.2. 저주파 영역과 고주파 영역을 모두 사용한 결함 검출 방법 23
4.3. 결함 검출 결과 28
V. 결함 판별 알고리즘 29
5.1. 기존의 결함 판별 연구 29
5.2. 결함 군집화 31
5.3. 단순 결함 판별 33
5.3.1 윤곽선 추출 및 변화횟수 파악 33
5.3.2 단순 결함 판별 방법 35
5.4. 복합결함 판별 36
5.4.1 다층 퍼셉트론(Multi-layer Perceptron) 신경회로망 36
5.4.2 복합결함 판별 방법 39
5.5. 결함 판별 결과 40
VI. 실험 결과 41
6.1. 실험 환경 41
6.2. 결함 검출 및 판별 소요시간 43
6.3. 결함 검출 정확도 45
6.4. 결함 판별 정확도 47
VII. 결론 49
참고 문헌 50
감사의 글 55

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0